Dotazione Strumentale

Strumentazione Scientifica e Risorse Software

Risorse Software - Move suite: Fully integrated 2D and 3D model building and analysis

PETEX supports teaching and research activities

At the beginning of January 2020 our Department and Petroleum Experts Limited (www.petex.com) signed an important Educational Agreement.
Petroleum Experts Limited will support research and teaching activities of the Earth and Environmental Sciences Department providing us 10 licenses for their Move Suite (www.petex.com/products/move-suite/)
Move Suite is a powerful structural modelling and analysis toolkit providing digital environments to carry out structural modelling to reduce risk and uncertainty in geological models.

The Move suite is composed of a Core Application for data interpretation and 3D model building and 7 modules for more specific processes: 2D kinematic modelling - 3D kinematic modelling - Geomechanical Modelling - Fracture Modelling - Stress Analysis - Fault Analysis - Fault response Modelling.
Move Suite is a well known and widespread tool in more than 420 oil and gas industries worldwide.
Providing 10 licenses, Petex is donating the equivalent of 1,525,561.89 pounds pounds to support our teaching and research activities.
This is a great opportunity for both faculty staff and students.
The software will be installed on the computers of the PC lab (Blocco A) so that MS.C students, Ph.D students and teaching activities can take advantage of it.

Fully integrated 2D and 3D model building and analysis

Analisi termica

Analizzatore termico TGA/SDTA

Marca/modello: Mettler Toledo 851

Anno di acquisto: 1998

Ubicazione: 0A34

Descrizione: l’analizzatore termico TGA/SDTA 851 consente di effettuare sullo stesso campione in simultanea sia analisi TGA (analisi termo gravimetrica) che DTA (analisi termica differenziale) da temperatura ambiente fino a 1100 °C in atmosfera libera o controllata. La misura di massa è effettuata mediante una bilancia differenziale orizzontale su campioni di qualche milligrammo in crogioli di allumina o platino.

 

Sistema per analisi termica (Perkin-Elmer TGA7-DSC7)

Marca/modello: Perkin Elmer TGA7-DSC7

Anno di acquisto: 1989

Ubicazione: 0A35

Descrizione: Secondo la definizione dello ICTA (International Confederation of Thermal Analyses) per Analisi Termica si intende un gruppo di tecniche nelle quali una proprietà fisica di una sostanza e/o un suo prodotto di reazione vengono misurati in funzione della temperatura mentre la sostanza è sottoposta ad un programma controllato di riscaldamento/raffreddamento.


TGA7:
La termogravimetria permette di determinare la variazione di massa (peso) di un campione sottoponendolo ad un programma controllato di temperatura.
Temperatura di utilizzo a partire da 20°C a 900°C
Applicazioni:
. caratterizzazione sostanze pure e miscele, polimeri, ceramici, metalli e leghe
. analisi qualitative e quantitative
. temperature caratteristiche di decomposizione
. composizione: contenuto % di umidità, % solventi/additivi
. ossidazione (Loss of Ignition-LOI)


DSC7:
La calorimetria differenziale misura la differenza di flusso di calore tra un campione e un riferimento in funzione della temperatura, mentre il campione è sottoposto ad un programma controllato di temperatura.
Temperatura di utilizzo a partire da 20°C a 725°C
Applicazioni:

  • punto di fusione
  •  transizioni vetrose
  •  cristallizzazione
  •  purezza
  •  temperature caratteristiche
  •  stabilità termica
  •  calore (entalpia) di fusione/di reazione
  •  polimorfismo

Diffrattometri a raggi X (XRD)

Marca/modello:  Panalytical Empyrean
Anno di acquisto: 2010
Ubicazione: laboratorio di diffrazione di raggi X 0C38
Descrizione:  il diffrattometro per polveri può essere usato nella classica configurazione Bragg-Brentano, per ottenere i diffrattogrammi di solidi cristallini, e nella configurazione in trasmissione con specchio focalizzante ottimizzato per misure XRD a basso angolo per lo studio di silici mesoporose ordinate.

Marca/modello: Siemens D500
Anno di acquisto: 1989
Ubicazione: laboratorio di diffrazione di raggi X 0C13-0C14
Descrizione: il diffrattometro θ – 2θ Siemens D500 utilizza la geometria focalizzante di Bragg – Brentano con  radiazione al Mo Kα.

Marca/modello:  Panalytical Xpert Pro
Anno di acquisto: 2004
Ubicazione: laboratorio Cinsa denominato LAMP –Laboratorio per la previsione, monitoraggio e riduzione del rischio di contaminazione da Metalli Pesanti-. Via Trentino link al sito http://unica2.unica.it/geochim/

Descrizione: diffrattometro di raggi X con configurazione θ-θ munito di accessori per analisi in geometria parallela. Questa configurazione permette l’analisi mineralogica sia su campioni massivi rugosi che su polveri. I sistemi accessori, quali ad esempio la camera climatica ed il rivelatore “rapido” mod. X’Celerator, permettono di effettuare misure di trasformazioni di fase in situ indispensabili per comprendere alcuni dei meccanismi di alterazione responsabili della dispersione dei metalli pesanti.

Cromatografo ionico

Marca/modello: Thermo Scientific Dionex ICS 3000 DC

Anno di acquisto: 2008

Ubicazione: laboratorio di cromatografia ionica – Blocco A

Descrizione: Sistema per cromatografia ionica per la determinazione di cationi e anioni in soluzione

Cromatografo ionico

LC-MS/MS

Marca/Modello: Varian310-MS LC/MS-MS

Anno di acquisto: 2009

Ubicazione: laboratorio gas-massa 0C36-0C37

Descrizione: il cromatografo liquido (Varian LC-212) con rivelatore di massa a triplo quadrupolo (Varian 310) permette analisi di miscele di sostanze (in fase liquida) con pesi molecolari inferiori ai 2000 Da. In uscita dal cromatografo la fase liquida viene nebulizzata e le sostanze ionizzate col metodo API-ESI (Electro-Spray Ionization). Il sistema LC/MS-MS permette di lavorare sia in modalità MS (singola frammentazione) che in MS-MS (doppia frammentazione) grazie alla frammentazione secondaria effettuata mediante Argon. Esistono diverse procedure che permettono l’analisi qualitativa e quantitativa delle molecole separate cromatograficamente. In particolare è possibile utilizzare le seguenti modalità di analisi:

  • Selected Ion Monitoring (SIM)
  • Full Scan
  • Precursor Scan
  • Product Scan
  • Neutral Loss Scan
  • Selected Reaction Monitoring (SRM)
  • Multi  Reaction Monitoring

Microscopi elettronici in trasmissione (TEM)

Marca/Modello: Hitachi H-7000 con camera CCD AMT XR-41

Anno di acquisto: 2010

Ubicazione: laboratorio di microscopia elettronica in trasmissione 0C38

 

Marca/Modello: JEOL JEM 200 CX

Anno di acquisto: 1991

Ubicazione: laboratorio di microscopia elettronica in trasmissione 0C32-0C33

Descrizione: la Microscopia Elettronica a Trasmissione  permette di ottenere, da un campione sufficientemente assottigliato (< 0.1 micron), immagini ad elevata risoluzione (1.92 Å) prodotte da elettroni ad alta energia incidenti sul campione. Trova applicazione nella scienza dei materiali per lo studio morfologico e la caratterizzazione di microfasi, interfacce, polveri e anche in campo biologico. Informazioni ottenibili col TEM:

  • Topografia Caratteristiche superficiali di un oggetto e la sua “tessitura”;
  • Morfologia Forma e dimensione di particelle che costituiscono un oggetto;
  • Informazioni cristallografiche (diffrazione elettronica)  Fasi cristalline e amorfe; tipi di reticolo
  • Composizione (radiazioni secondarie)  Elementi e composti di cui l’oggetto è costituito e loro quantità relative.

Si può lavorare in campo chiaro e in campo scuro: campo chiaro: consente di osservare la morfologia dei campioni come contrasto di immagine; campo scuro: consente di osservare micro e nano cristalli presenti nei campioni come contrasto di fase.
Inoltre è possibile determinare la dimensione media delle particelle in sistemi nano dimensionati e la distribuzione delle dimensioni.

Spettrometri ad emissione atomica ICP-OES

Marca/Modello: Varian Liberty 200

Anno di acquisto: 2000

Ubicazione: laboratorio analisi ICP-AES 0B23

Descrizione: ICP ad emissione con torcia al quarzo verticale e nebulizzatore ad ultrasuoni, utilizzato per la determinazione elementare, qualitativa e quantitativa, di materiali di natura inorganica, organica e in fase liquida o solida previa loro dissoluzione.
Possono essere analizzati un  totale di 34 elementi chimici. I limiti di determinazione degli elementi variano in base alle loro caratteristiche atomiche e in molti casi sono dell’ordine dei ppb.

 

Marca/Modello: Fisons ARL 3520

Anno di acquisto: 1991

Ubicazione: laboratorio ICP-OES - Blocco A

Descrizione: Spettrometro ad emissione con sorgente al plasma ad accoppiamento induttivo, dotato di  minitorcia di quarzo in posizione verticale. E’ utilizzato per la determinazione di elementi sia in matrici acquose che derivanti da solubilizzazioni di rocce e minerali in genere.

Spettrometri NMR

Marca/Modello: FT-NMR   Varian UNITY INOVA 500 MHz NB High-Resolution (Agilent)

Anno di acquisto: 2011

Ubicazione: laboratorio Interdipartimentale di Risonanza Magnetica Nucleare 0C19

Descrizione: magnete superconduttore da 11.74 T (500 MHz)

  • un probe per campioni liquidi diretto 5 mm 1H-19F  e un canale highband (1H), con possibilità di disaccoppiamento protonico) per campioni liquidi dotato di controllo di  temperatura da +150 a -150°C;
  • un probe per campioni liquidi da 5 mm Indirect PFG 1H (15N – 31P), gradiente sull’asse Z, possibilità di disaccoppiamento protonicoe controllo della  temperatura da -100 a 100°C.
  • Il software di gestione dello strumento è dotato di tutta una classe di sequenze mono e bidimensionali (DQCOSY, TOCSY, ROESY, NOESY, HSQC, HMQC e altre) utili per una completa assegnazione e determinazione strutturale.

 

Marca/Modello: FT-NMR   Bruker Avance 300 MHz

Anno di acquisto: 2000

Ubicazione: laboratorio NMR-2 OC01

Descrizione: magnete superconduttore da 7.05 T (300 MHz) equipaggiato di:

  • un probe a banda larga per acquisizione multinucleare con disaccoppiamento protonico,
  • un probe 19F/1H per acquisizione di segnali in alta risoluzione,
  • un probe DIFF 30 per la determinazione dei coefficienti di auto-diffusione dei seguenti nuclei : 1H, 19F, 13C, 23Na, 31P. Per le misure di auto-diffusione è disponibile un amplificatore Great 40 capace di generare gradienti sino a 1200 T m-1 sull’asse z.

 

Spettrometro a fluorescenza a raggi X (XRF)

Marca/Modello: Panalytical MagiX Pro

Anno di acquisto: 2004

Ubicazione: laboratorio Cinsa denominato LAMP –Laboratorio per la previsione, monitoraggio e riduzione del rischio di contaminazione da Metalli Pesanti-. Via Trentino link al sito http://unica2.unica.it/geochim/

Descrizione: Spettrometro sequenziale di Fluorescenza X per la caratterizzazione chimica dei materiali allo stato solido, con goniometro ad alta definizione, alta velocità angolare e con accuratezza e riproducibilità angolare rispettivamente pari a 0.0025° θ, 2θ e 0.0001° θ, 2θ.Lo strumento è dotato di dispositivo programmabile con tre collimatori montati, rispettivamente “fine”, “coarse” ed “extra-coarse”, sei cristalli analizzatori e due contatori (proporzionale ed a scintillazione). Lo spettrometro è dotato anche di un canale simultaneo dedicato per l’analisi del carbonio.La configurazione garantisce la copertura analitica nel range dal carbonio all’uranio e l’ottimizzazione dell’analisi degli elementi pesanti, dello zolfo e del carbonio.

XRF

Spettrometri di massa ICP-MS

Marca/Modello: Perkin Elmer SCIEX Elan DRC-e

Anno di acquisto: 2004

Ubicazione: laboratorio Cinsa denominato LAMP –Laboratorio per la previsione, monitoraggio e riduzione del rischio di contaminazione da Metalli Pesanti-. Blocco A 

Descrizione: spettrometro di massa con sorgente al plasma ad accoppiamento induttivo, munito di autocampionatore e cella di reazione per l’eliminazione degli interferenti. Permette l’analisi multielementare di oltre 70 elementi in una grande varietà di matrici, consentendo la determinazione di elementi di particolare interesse ambientale con limiti di rivelabilità molto bassi, a livelli di tracce ed ultratracce, con possibilità quindi di individuare il background naturale in aree non contaminate e i trend evolutivi di situazioni a rischio. L’ICP-MS è interfacciato con una “laser ablation” (New Wave research), dotata di un raggio di lunghezza d’onda pari a 213 nanometri, che permette l’analisi diretta di campioni solidi, eliminando gli errori dovuti alla solubilizzazione e diluizione del campione, alla contaminazione da parte dei reagenti, riducendo inoltre i tempi legati alla preparazione del campione stesso.

 

Marca/modello: Varian (Bruker) Red Top

Anno di acquisto: 2007

Ubicazione: 1B14

Descrizione: l’ ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) è una tecnica per analisi multielementare veloce, precisa ed estremamente sensibile, per la determinazione degli elementi in tracce.

 

 

Spettrometro XPS

Marca/Modello: VG ESCALAB MKII


Anno di acquisto: 1985


Ubicazione: laboratorio di microscopia elettronica in trasmissione 0B09
http://dipcia.unica.it/superf/

Descrizione:
• Sorgente di raggi X a doppio anodo Alka e Mgka (0 – 15 kV, 0 – 20 mA, 300 W).
• Analizzatore emisferico (210 mm) con 5 channel electron multipliers  (installazione 1994)
• Sorgente di ioni di gas nobili per rimozione in situ di strati di contaminazione e di ossido (E = 0.5-10 keV);
• Sorgente di ioni di gas nobili per la registrazione di profili di composizione in funzione della profondità e per misure ISS (E = 0.5-5 keV) (installazione 1994);
• Sorgente di elettroni LEG200 per spettroscopia e microscopia Auger (3-10 keV);
• Pre-camera per l’introduzione rapida di campioni;
• Carousel per l’introduzione in camera di analisi fino a sei campioni contemporaneamente;
• Dimensioni dei campioni: i porta-campioni hanno diametri variabili da 0.5 cm a 2.5 cm ed è possibile analizzare campioni che abbiano un’altezza massima di 1 cm.
• Tipo di campioni: si possono esaminare campioni conduttori; semi-conduttori ed isolanti sotto forma di: lamine, pastiglie, cristalli, polveri, fili, fibre, nanoparticelle, sistemi multistrato di dimensioni nanometriche. In caso di polveri sono necessari ca. 100 mg di materiale. L’analisi viene eseguita in condizioni di ultra-alto vuoto (P = 10-7 Pa) – dunque, i campioni devono essere stabili a bassa pressione.
• Possibilità di raffreddare i campioni in camera di analisi con azoto liquido fino alla temperatura di -173°C.
• Computer ed interfacce per l’acquisizione degli spettri elettronici e delle mappe Auger sotto controllo di computer.
L’apparecchio è stato acquistato a metà degli anni ottanta e da allora è stato migliorato con la sostituzione dell’analizzatore, l’installazione dell’iris per l’analisi in modalità di small-area, nonché la sostituzione del computer e delle interfacce di tutte le unità elettroniche per l’acquisizione degli spettri e dei programmi per la loro elaborazione.
Metodi di analisi:
• Spettroscopia di fotoelettroni indotta da raggi X (XPS); XPS in risoluzione angolare (ARXPS); XPS di piccole aree (fino a 100 µm di diametro) (SAXPS); profili di composizione in funzione dello spessore di E = 1.0 eV.
• Microscopia di elettroni secondari (SEM), Spettroscopia di elettroni Auger (AES), Microscopia Auger a scansione (SAM); (miglioramento 1994)
Spettroscopia di ioni retrodiffusi (ISS); (installazione 2000)

Spettrometro XPS

TPD/TPR/TPO

Marca/Modello: Thermo TPDRO 1100

Anno di acquisto: 2001

Ubicazione: laboratorio di chimica industriale 0A20

Descrizione: lo strumento TPD (desorbimento a temperatura programmata)/TPR (riduzione a temperatura programmata)/TPO (ossidazione a temperatura programmata) permette lo studio e la caratterizzazione di superfici solide.La TPD è una tecnica che studia l’interazione fra la superficie di un solido ed una molecola sonda gassosa che viene fatta adsorbire su di essa. La TPD é ampiamente usata per studiare le caratteristiche acido?base superficiali di un solido. Le proprietà dei siti basici vengono determinate studiando la loro interazione con molecole acide (ad esempio il biossido di carbonio), mentre le proprietà dei siti acidi vengono studiate facendo adsorbire molecole basiche come l’ammoniaca, la piridina e la n?butilammina.La TPR è una tecnica per la caratterizzazione di materiali solidi, che consente di ottenere informazioni importanti sullo stato di ossidazione delle specie riducibili presenti in un campione solido.

TPD/TPR/TPO

Spettrometro FT-Raman

Marca/Modello: Bruker  RFS100/S
Anno di acquisto: 2002
Ubicazione: laboratorio spettroscopia Raman e FT-IR  0B36
Descrizione: spettrometro FT-Raman con linea di eccitazione 1064 nm (Nd-YAG), detectors InGaAs e Ge (raffreddato ad azoto liquido) + Microscopio FT-Raman R590 Raman-Scope accoppiato al banco ottico. La Spettroscopia FT-Raman con linea di eccitazione a 1064 nm rispetto alla spettroscopia Raman convenzionale permette di ridurre i problemi di fluorescenza. L’accoppiamento della spettroscopia FT-Raman con il microscopio presenta inoltre il vantaggio di poter analizzare superfici molto piccole di campioni fino alla scala micrometrica (lo spot del laser copre 10-15 mm con Nd-YAG, 1064 nm). Con laser che emettono nel visibile le superfici esaminate possono arrivare a 1-2mm e si può effettuare un’ analisi di superficie.

Spettrometro FT-Raman

Questionario e social

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